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一种椭偏仪优化校准方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011233878.1
申请日
:
2020-11-06
公开(公告)号
:
CN112345464B
公开(公告)日
:
2024-11-29
发明(设计)人
:
李伟奇
陈军
张传维
郭春付
申请人
:
武汉颐光科技有限公司
申请人地址
:
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区汤逊湖北路33号华工科技园·创新基地办公研发楼18栋4层5、6、7室
IPC主分类号
:
G01N21/21
IPC分类号
:
G01B11/06
代理机构
:
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242
代理人
:
高兰
法律状态
:
授权
国省代码
:
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-29
授权
授权
共 50 条
[1]
一种椭偏仪优化校准方法
[P].
李伟奇
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李伟奇
;
陈军
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陈军
;
张传维
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张传维
;
郭春付
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郭春付
.
中国专利
:CN112345464A
,2021-02-09
[2]
一种椭偏仪微光斑校准方法
[P].
石雅婷
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
石雅婷
;
薛小汝
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
薛小汝
;
李伟奇
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
李伟奇
;
郭春付
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
郭春付
;
何勇
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
何勇
;
张传维
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
张传维
.
中国专利
:CN116045822B
,2025-11-25
[3]
一种椭偏仪系统参数的优化方法
[P].
刘世元
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刘世元
;
杜卫超
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杜卫超
;
张传维
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张传维
;
谷洪刚
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谷洪刚
;
李苏斌
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李苏斌
.
中国专利
:CN103426031B
,2013-12-04
[4]
一种Mueller矩阵型椭偏仪椭偏参数测量的优化方法
[P].
胡浩丰
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胡浩丰
;
刘铁根
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刘铁根
;
李校博
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李校博
.
中国专利
:CN107490547B
,2017-12-19
[5]
一种双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪的误差校准方法
[P].
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机构:
雷兵
;
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机构:
高超
;
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机构:
翁剑宇
;
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机构:
曹晓昱
;
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机构:
张斌
;
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机构:
施建华
.
中国专利
:CN116930093B
,2024-01-26
[6]
成像椭偏仪的系统参数校准方法
[P].
曾爱军
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曾爱军
;
胡仕玉
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胡仕玉
;
袁乔
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袁乔
;
顾帅妍
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顾帅妍
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谷利元
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谷利元
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黄惠杰
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黄惠杰
;
贺洪波
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贺洪波
.
中国专利
:CN104535500A
,2015-04-22
[7]
一种光谱型椭偏仪椭偏角的校准方法
[P].
李锁印
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李锁印
;
韩志国
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韩志国
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冯亚南
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冯亚南
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梁法国
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梁法国
;
赵琳
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赵琳
;
许晓青
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许晓青
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吴爱华
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吴爱华
.
中国专利
:CN106091952A
,2016-11-09
[8]
一种基于椭偏仪的光谱匹配校准方法
[P].
李伟奇
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李伟奇
;
颜凡
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颜凡
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陈军
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陈军
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石雅婷
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石雅婷
;
郭春付
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郭春付
;
张传维
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张传维
.
中国专利
:CN114384017A
,2022-04-22
[9]
一种椭偏测量系统校准方法、系统及椭偏测量方法
[P].
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机构:
张传维
;
侯昭茹
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
侯昭茹
;
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机构:
陈修国
.
中国专利
:CN118130390A
,2024-06-04
[10]
一种面向椭偏仪的测量一致性优化方法及装置
[P].
陈军
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
陈军
;
江攀
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
江攀
;
何勇
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
何勇
;
杨成
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
杨成
;
熊伟东
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武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
熊伟东
;
李伟奇
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
李伟奇
;
张传维
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机构:
武汉颐光科技有限公司
武汉颐光科技有限公司
张传维
.
中国专利
:CN116223391B
,2025-10-17
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