图像缺陷检测方法、装置、系统和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411658949.0
申请日
2024-11-20
公开(公告)号
CN119151945A
公开(公告)日
2024-12-17
发明(设计)人
付伟男 王磊 余明岭
申请人
杭州灵西机器人智能科技有限公司
申请人地址
311100 浙江省杭州市余杭区余杭街道天目山西路360号未来科技城AI产业园4幢1-3层
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T7/62 G06T7/90 G06V10/764
代理机构
杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324
代理人
纪雨辛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[31]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张建书 ;
何水源 ;
贺继石 ;
刘枢 ;
沈小勇 ;
吕江波 .
中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19
[32]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张才明 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119399183A ,2025-02-07
[33]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06
[34]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何水源 ;
李睿宇 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN117635509A ,2024-03-01
[35]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521B ,2024-11-26
[36]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03
[37]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吴凯 ;
刘阿灶 ;
李宗缘 ;
王鑫光 ;
姚飙 ;
刘斌 ;
严云飞 .
中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12
[38]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
黄建峰 ;
林义闽 ;
易万鑫 ;
廉士国 .
中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07
[39]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
肖遥 ;
佟异 ;
张嵩 .
中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12
[40]
缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
王倩 ;
宋林东 .
中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12