图像缺陷检测方法、装置、系统和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411658949.0
申请日
2024-11-20
公开(公告)号
CN119151945A
公开(公告)日
2024-12-17
发明(设计)人
付伟男 王磊 余明岭
申请人
杭州灵西机器人智能科技有限公司
申请人地址
311100 浙江省杭州市余杭区余杭街道天目山西路360号未来科技城AI产业园4幢1-3层
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T7/62 G06T7/90 G06V10/764
代理机构
杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324
代理人
纪雨辛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[41]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何兆铭 ;
毕海 ;
段江伟 ;
汪伟 ;
杨万里 .
中国专利 :CN114235759B ,2022-03-25
[42]
缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质 [P]. 
王彬 ;
王玉栋 ;
黄益民 .
中国专利 :CN119810024A ,2025-04-11
[43]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张殿斌 ;
张保磊 ;
王锋 ;
宋广生 .
中国专利 :CN117593259A ,2024-02-23
[44]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
詹望 .
中国专利 :CN118485613A ,2024-08-13
[45]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12
[46]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
肖遥 ;
佟异 ;
张嵩 .
中国专利 :CN114332012B ,2025-09-12
[47]
图像检测方法、装置和系统及计算机可读存储介质 [P]. 
樊兴旺 ;
韦桂锋 .
中国专利 :CN113014908A ,2021-06-22
[48]
缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
谢阳 .
中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12
[49]
缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P]. 
金侠挺 ;
郑佳 ;
潘华东 .
中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23
[50]
缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P]. 
金侠挺 ;
郑佳 ;
潘华东 .
中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25