一种利用深度学习算法的半导体缺陷分类和预测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411311828.9

申请日：

2024-09-20

公开(公告)号：

CN119131505A

公开(公告)日：

2024-12-13

发明(设计)人：

汪李华

申请人：

中科芯数（深圳）科技有限公司

申请人地址：

518110 广东省深圳市龙华区观湖街道松元厦社区上围新村68号2A-18

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06V10/82 G06V10/44 G06V10/74 G06V10/80 G06N3/0442 G06N3/0464 G06N3/092

代理机构：

合肥北极牛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34239

代理人：

贾子彬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20240920
2024-12-13	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于深度学习算法的影像缺陷检测和分类方法及系统 [P].

朱保明 ;

许杰 .

中国专利 :CN115147363A ,2022-10-04

[2]

一种利用机器学习和深度学习算法预测测井曲线的方法 [P].

沈亮 .

中国专利 :CN114741944A ,2022-07-12

[3]

基于深度学习算法的再生水水质预测方法和系统 [P].

马素英 ;

范雷雷 ;

付银环 ;

魏飒 ;

刘婧 ;

马振波 ;

徐阳 ;

曲世伟 ;

张爽 .

中国专利 :CN118861531B ,2025-05-27

[4]

基于深度学习算法的再生水水质预测方法和系统 [P].

马素英 ;

范雷雷 ;

付银环 ;

魏飒 ;

刘婧 ;

马振波 ;

徐阳 ;

曲世伟 ;

张爽 .

中国专利 :CN118861531A ,2024-10-29

[5]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377A ,2024-03-15

[6]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377B ,2024-05-24

[7]

基于Retinex算法和深度学习的柑橘表面缺陷检测方法 [P].

李明楚 ;

曹远龙 ;

曾锦山 ;

方剑英 ;

万欢 .

中国专利 :CN120374530A ,2025-07-25

[8]

一种利用深度学习算法实现垃圾分类的方法 [P].

蔡志成 ;

庄建军 ;

彭成磊 ;

冯源 ;

李保稷 .

中国专利 :CN112487938A ,2021-03-12

[9]

一种基于深度学习算法的工程材料无损检测方法 [P].

魏晓龙 ;

王新晖 ;

李其鑫 ;

秦小华 ;

秦永豪 .

中国专利 :CN120870340A ,2025-10-31

[10]

一种基于深度学习算法的心电图分类方法 [P].

杨一平 ;

朱欣 .

中国专利 :CN106214145A ,2016-12-14

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