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一种原子层沉积装置及原子层沉积方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011133173.2
申请日
:
2020-10-21
公开(公告)号
:
CN112176321B
公开(公告)日
:
2025-01-14
发明(设计)人
:
徐志斌
马骏
祝晓钊
冯敏强
廖良生
申请人
:
江苏集萃有机光电技术研究所有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇汾湖大道1198号
IPC主分类号
:
C23C16/455
IPC分类号
:
C23C16/458
C23C16/44
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
胡彬
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-14
授权
授权
共 50 条
[1]
一种原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
徐志斌
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徐志斌
;
马骏
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马骏
;
祝晓钊
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祝晓钊
;
冯敏强
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冯敏强
;
廖良生
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廖良生
.
中国专利
:CN112176321A
,2021-01-05
[2]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
刘良文
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
刘良文
;
闫晓晖
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
闫晓晖
;
拉海忠
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
拉海忠
.
中国专利
:CN119800330A
,2025-04-11
[3]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
郭世根
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
郭世根
;
项金娟
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
项金娟
;
刘青
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
刘青
.
中国专利
:CN114351116B
,2024-12-31
[4]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
郭世根
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郭世根
;
项金娟
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项金娟
;
刘青
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刘青
.
中国专利
:CN114351116A
,2022-04-15
[5]
原子层沉积方法及原子层沉积装置
[P].
叶长福
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
叶长福
;
魏鼎
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
魏鼎
;
吕佐文
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
吕佐文
.
中国专利
:CN117265508B
,2025-09-26
[6]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
李名言
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李名言
;
吴孝哲
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吴孝哲
;
蔡文立
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蔡文立
.
中国专利
:CN101333648A
,2008-12-31
[7]
原子层沉积方法和原子层沉积设备
[P].
古尔特基·S·桑赫
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古尔特基·S·桑赫
;
特鲁格·特里·多恩
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特鲁格·特里·多恩
.
中国专利
:CN100346448C
,2005-10-26
[8]
原子层沉积装置及原子层沉积系统
[P].
曹生贤
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曹生贤
.
中国专利
:CN106030848B
,2016-10-12
[9]
原子层沉积方法和原子层沉积装置
[P].
佐藤英儿
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机构:
新烯控股有限公司
新烯控股有限公司
佐藤英儿
;
坂本仁志
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机构:
新烯控股有限公司
新烯控股有限公司
坂本仁志
.
日本专利
:CN120153123A
,2025-06-13
[10]
原子层沉积装置和原子层沉积方法
[P].
龟田直人
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龟田直人
;
三浦敏德
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三浦敏德
;
花仓满
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花仓满
.
中国专利
:CN114286875A
,2022-04-05
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