自动化测试的分析方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411320325.8

申请日：

2024-09-20

公开(公告)号：

CN119336603A

公开(公告)日：

2025-01-21

发明(设计)人：

王浩李超

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215128 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

周婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240920
2025-01-21	公开	公开

共 50 条

[1]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

[2]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

赵文越 ;

阮晓玲 .

中国专利 :CN113961472A ,2022-01-21

[3]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马晨 .

中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01

[4]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈岑 ;

郑志芬 ;

李长乐 .

中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23

[5]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘斌 ;

焦凤霞 ;

徐鑫 ;

魏明瑞 ;

赵国志 .

中国专利 :CN112099472A ,2020-12-18

[6]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄大忠 .

中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10

[7]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李颖 ;

熊施 ;

陶敏 ;

杨启超 .

中国专利 :CN119513889A ,2025-02-25

[8]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

李翔 ;

王建军 ;

刘欣 .

中国专利 :CN108170611A ,2018-06-15

[9]

自动化测试方法、自动化测试装置、电子设备、存储介质 [P].

孙明星 ;

吴丹 ;

黎树敏 ;

黄钦 .

中国专利 :CN115562991A ,2023-01-03

[10]

自动化测试代码的测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

谭雯燕 ;

王明鑫 ;

方伟 ;

徐可 ;

蒋小超 .

中国专利 :CN118503116A ,2024-08-16

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