一种测试电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010261628.2

申请日：

2020-04-03

公开(公告)号：

CN111337783B

公开(公告)日：

2025-02-14

发明(设计)人：

戴加良赵帅

申请人：

深圳英集芯科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R19/00 H02J7/00

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

卢泽明

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-14	授权	授权
2025-01-21	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/00变更事项:申请人变更前:深圳英集芯科技有限公司变更后:深圳英集芯科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市粤海街道科苑路15号科兴科学园A2栋1301变更后:518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房
2025-07-18	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):G01R 31/00登记号:Y2025980026401登记日:20250702出质人:深圳英集芯科技股份有限公司质权人:招商银行股份有限公司深圳分行发明名称:一种测试电路及其测试方法申请日:20200403授权公告日:20250214

共 50 条

[1]

一种测试电路及其测试方法 [P].

戴加良 ;

赵帅 .

中国专利 :CN111337783A ,2020-06-26

[2]

一种测试电路 [P].

戴加良 ;

赵帅 .

中国专利 :CN211928065U ,2020-11-13

[3]

芯片测试电路及其测试方法 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN113533927A ,2021-10-22

[4]

一种测试电路及其测试方法、测试系统 [P].

高弘玮 ;

张国庆 ;

杨红霞 ;

赵普查 ;

白晓鹏 ;

赵科 ;

贾智慧 ;

宗岩 ;

王晓伟 ;

刘耀荣 .

中国专利 :CN108562839A ,2018-09-21

[5]

一种高压封装极性测试电路及其测试方法 [P].

周祥兵 ;

陈骏 ;

高潮 .

中国专利 :CN117761514B ,2024-05-31

[6]

一种高压封装极性测试电路及其测试方法 [P].

周祥兵 ;

陈骏 ;

高潮 .

中国专利 :CN117761514A ,2024-03-26

[7]

一种测试电路及测试方法 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

罗浩 .

中国专利 :CN118841061A ,2024-10-25

[8]

测试电路及其测试方法 [P].

林志丰 .

中国专利 :CN115453308A ,2022-12-09

[9]

测试电路及其测试方法 [P].

李智 .

中国专利 :CN106291148A ,2017-01-04

[10]

测试电路及其测试方法 [P].

李大军 ;

陈进文 .

中国专利 :CN1595183A ,2005-03-16

← 1 2 3 4 5 →