测试电路及其测试方法

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申请号
CN202110642526.X
申请日
2021-06-09
公开(公告)号
CN115453308A
公开(公告)日
2022-12-09
发明(设计)人
林志丰
申请人
申请人地址
中国台湾台中市
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
周永君;叶明川
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试电路及其测试方法 [P]. 
吴政原 ;
张建诚 .
中国专利 :CN1928578A ,2007-03-14
[2]
测试电路及其测试方法 [P]. 
林志丰 .
中国专利 :CN115453308B ,2025-06-24
[3]
测试电路、集成电路及其测试方法 [P]. 
西田治雄 ;
石田卓也 .
中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11
[4]
测试电路、显示面板及其测试方法 [P]. 
李飞 .
中国专利 :CN113553225B ,2021-10-26
[5]
测试电路及其测试方法 [P]. 
李智 .
中国专利 :CN106291148A ,2017-01-04
[6]
测试电路及其测试方法 [P]. 
李大军 ;
陈进文 .
中国专利 :CN1595183A ,2005-03-16
[7]
测试电路、测试系统及其测试方法 [P]. 
蒋昊 .
中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27
[8]
芯片测试电路及其测试方法 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN113533927A ,2021-10-22
[9]
测试电路和测试方法 [P]. 
佐伯穣 .
中国专利 :CN101339226A ,2009-01-07
[10]
用于芯片封装前测试的测试电路及其测试方法 [P]. 
甘正浩 .
中国专利 :CN102569259A ,2012-07-11