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测试电路及其测试方法
被引:0
申请号
:
CN202110642526.X
申请日
:
2021-06-09
公开(公告)号
:
CN115453308A
公开(公告)日
:
2022-12-09
发明(设计)人
:
林志丰
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾台中市
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
周永君;叶明川
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-09
公开
公开
2022-12-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210609
共 50 条
[1]
测试电路及其测试方法
[P].
吴政原
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴政原
;
张建诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张建诚
.
中国专利
:CN1928578A
,2007-03-14
[2]
测试电路及其测试方法
[P].
林志丰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华邦电子股份有限公司
华邦电子股份有限公司
林志丰
.
中国专利
:CN115453308B
,2025-06-24
[3]
测试电路、集成电路及其测试方法
[P].
西田治雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
西田治雄
;
石田卓也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石田卓也
.
中国专利
:CN1519576A
,2004-08-11
[4]
测试电路、显示面板及其测试方法
[P].
李飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李飞
.
中国专利
:CN113553225B
,2021-10-26
[5]
测试电路及其测试方法
[P].
李智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李智
.
中国专利
:CN106291148A
,2017-01-04
[6]
测试电路及其测试方法
[P].
李大军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李大军
;
陈进文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈进文
.
中国专利
:CN1595183A
,2005-03-16
[7]
测试电路、测试系统及其测试方法
[P].
蒋昊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋昊
.
中国专利
:CN113176482A
,2021-07-27
[8]
芯片测试电路及其测试方法
[P].
蔡振龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
基因·罗森塔尔
.
中国专利
:CN113533927A
,2021-10-22
[9]
测试电路和测试方法
[P].
佐伯穣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佐伯穣
.
中国专利
:CN101339226A
,2009-01-07
[10]
用于芯片封装前测试的测试电路及其测试方法
[P].
甘正浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
甘正浩
.
中国专利
:CN102569259A
,2012-07-11
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