测试电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510260019.4

申请日：

2015-05-20

公开(公告)号：

CN106291148A

公开(公告)日：

2017-01-04

发明(设计)人：

李智

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

韩建伟;张永明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-04	公开	公开
2017-02-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101700806542 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2015102600194 申请日:20150520
2020-01-24	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20170104

共 50 条

[1]

测试电路、测试系统及其测试方法 [P].

蒋昊 .

中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27

[2]

测试电路、测试装置及其测试方法 [P].

张良 .

中国专利 :CN114121132A ,2022-03-01

[3]

测试电路、测试装置及其测试方法 [P].

张良 .

中国专利 :CN114113802B ,2022-03-01

[4]

测试电路及其测试方法 [P].

林志丰 .

中国专利 :CN115453308A ,2022-12-09

[5]

测试电路及其测试方法 [P].

李大军 ;

陈进文 .

中国专利 :CN1595183A ,2005-03-16

[6]

测试电路及其测试方法 [P].

吴政原 ;

张建诚 .

中国专利 :CN1928578A ,2007-03-14

[7]

测试电路及其测试方法 [P].

林志丰 .

中国专利 :CN115453308B ,2025-06-24

[8]

一种测试电路及其测试方法、测试系统 [P].

高弘玮 ;

张国庆 ;

杨红霞 ;

赵普查 ;

白晓鹏 ;

赵科 ;

贾智慧 ;

宗岩 ;

王晓伟 ;

刘耀荣 .

中国专利 :CN108562839A ,2018-09-21

[9]

时间测试电路及时间测试方法 [P].

杨昊 ;

杨鸣 ;

苟欣 ;

田沐鑫 ;

曾宇乾 .

中国专利 :CN106970519A ,2017-07-21

[10]

芯片测试电路及其测试方法 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN113533927A ,2021-10-22

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