测试电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610142334.8

申请日：

2006-10-10

公开(公告)号：

CN1928578A

公开(公告)日：

2007-03-14

发明(设计)人：

吴政原张建诚

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北县

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

蒲迈文;黄小临

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-03-14	公开	公开
2007-05-09	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-12-10	授权	授权

共 50 条

[1]

测试电路、显示面板及其测试方法 [P].

李飞 .

中国专利 :CN113553225B ,2021-10-26

[2]

测试电路及其测试方法 [P].

林志丰 .

中国专利 :CN115453308A ,2022-12-09

[3]

测试电路及其测试方法 [P].

林志丰 .

中国专利 :CN115453308B ,2025-06-24

[4]

测试电路、集成电路及其测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11

[5]

包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法 [P].

郑胜在 ;

金容天 .

中国专利 :CN1519573B ,2004-08-11

[6]

测试电路及其测试方法 [P].

李智 .

中国专利 :CN106291148A ,2017-01-04

[7]

测试电路及其测试方法 [P].

李大军 ;

陈进文 .

中国专利 :CN1595183A ,2005-03-16

[8]

测试电路、测试系统及其测试方法 [P].

蒋昊 .

中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27

[9]

集成电路芯片及其测试方法 [P].

A·加蒂克 ;

P·奈伊 ;

L·帕斯泰尔 ;

J·范霍恩 ;

P·S·祖霍斯基 ;

S·F·奥克兰 .

中国专利 :CN100337385C ,2005-12-28

[10]

芯片测试电路及其测试方法 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN113533927A ,2021-10-22

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