一种硅片多点测厚装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421005717.0
申请日
2024-05-10
公开(公告)号
CN222353145U
公开(公告)日
2025-01-14
发明(设计)人
唐赟 吴少奇 卢福健
申请人
金瑞泓微电子(衢州)有限公司
申请人地址
324000 浙江省衢州市绿色产业集聚区盘龙南路52号9幢
IPC主分类号
G01B21/08
IPC分类号
代理机构
上海泰博知识产权代理有限公司 31451
代理人
魏峯
法律状态
授权
国省代码
河南省 商丘市
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共 50 条
[1]
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