一种面向MLCC的深度学习缺陷检测方法及系统

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专利类型
发明
申请号
CN202411490417.0
申请日
2024-10-24
公开(公告)号
CN119444692A
公开(公告)日
2025-02-14
发明(设计)人
陈梅云 李敏 许峻颐 王婧希 张大伟
申请人
广东工业大学
申请人地址
510062 广东省广州市越秀区东风东路729号
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T7/11 G06T7/73 G06N3/0464 G06N3/08
代理机构
中国商标专利事务所有限公司 11234
代理人
张珂
法律状态
授权
国省代码
广东省 广州市
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共 50 条
[1]
一种面向MLCC的深度学习缺陷检测方法及系统 [P]. 
陈梅云 ;
李敏 ;
许峻颐 ;
王婧希 ;
张大伟 .
中国专利 :CN119444692B ,2025-11-04
[2]
一种基于深度学习的MLCC多尺度缺陷自动检测方法及系统 [P]. 
陈梅云 ;
梁子健 ;
严泽荣 ;
翁俊一 .
中国专利 :CN120471869A ,2025-08-12
[3]
基于深度学习的实时布匹缺陷检测方法及系统 [P]. 
张勇 ;
颜庚潇 ;
赵东宁 ;
廉德亮 ;
梁长垠 ;
曾庆好 ;
何钦煜 .
中国专利 :CN112802016A ,2021-05-14
[4]
一种基于深度学习的工件表面缺陷检测方法 [P]. 
王健 ;
陈原 ;
刘席发 ;
高博文 ;
吕琦 .
中国专利 :CN110689539A ,2020-01-14
[5]
一种基于深度学习的工件表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
韩小平 ;
王立华 ;
闫云昊 ;
窦永旺 ;
赫金娜 ;
杨朋达 .
中国专利 :CN114881998A ,2022-08-09
[6]
一种基于深度学习的裂纹缺陷检测系统 [P]. 
薛晗庆 ;
李昊星 ;
潘红九 ;
王保录 ;
赵翔宇 ;
底亚峰 ;
彭晓 .
中国专利 :CN114119480A ,2022-03-01
[7]
一种基于深度学习的工业产品缺陷检测方法 [P]. 
邹腊梅 ;
车鑫 ;
俞天敏 ;
聂士伟 ;
张松伟 ;
钟胜 ;
熊紫华 ;
李晓光 ;
李长峰 .
中国专利 :CN110570396A ,2019-12-13
[8]
一种基于树莓派的深度学习产品缺陷检测系统及方法 [P]. 
谭泰铭 .
中国专利 :CN112017172A ,2020-12-01
[9]
一种基于深度学习的纸杯中小目标缺陷检测方法及系统 [P]. 
王俊茹 ;
张帅安 ;
向忠 ;
赵雄 .
中国专利 :CN120894292A ,2025-11-04
[10]
一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法、系统及设备 [P]. 
毛雪慧 ;
陈果 ;
闫龑 ;
王洋 .
中国专利 :CN110473179A ,2019-11-19