半导体器件结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411532121.0
申请日
2024-10-30
公开(公告)号
CN119521685A
公开(公告)日
2025-02-25
发明(设计)人
陈坤意 王怡情 谢玮庭 丁裕伟 黄国钦
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H10D1/68
IPC分类号
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
许晋豪 ;
郑安皓 ;
林彦良 ;
萧茹雄 .
中国专利 :CN119028947A ,2024-11-26
[2]
半导体器件结构及其形成方法 [P]. 
文克刚 ;
吴于贝 ;
李奕璋 ;
陈鑫封 ;
萧琮介 ;
王良玮 ;
赖胤霖 ;
邱志斌 ;
李莉渝 ;
叶承浩 .
中国专利 :CN119852284A ,2025-04-18
[3]
半导体器件结构及其形成方法 [P]. 
詹景文 ;
黄昶智 ;
谢智仁 ;
王怡情 ;
曾国权 ;
黄国钦 ;
庄学理 .
中国专利 :CN121001345A ,2025-11-21
[4]
半导体结构、半导体器件及其形成方法 [P]. 
张廷祥 ;
柯忠廷 ;
廖书翎 ;
林育如 ;
林颂恩 ;
黄泰钧 ;
李资良 .
中国专利 :CN120302696A ,2025-07-11
[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
杨柏峰 ;
杨世海 ;
贾汉中 ;
王圣祯 ;
林佑明 .
中国专利 :CN113517294A ,2021-10-19
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周智超 ;
庄正吉 ;
王志豪 ;
蔡庆威 .
中国专利 :CN119894076A ,2025-04-25
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
程仲良 .
中国专利 :CN113437065B ,2024-10-18
[8]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
程仲良 .
中国专利 :CN113437065A ,2021-09-24
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
吴国铭 ;
李汝谅 ;
陈昇照 .
中国专利 :CN119400773A ,2025-02-07
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
陈承先 ;
郭庭豪 ;
江慧君 ;
赖昱嘉 .
中国专利 :CN118280968A ,2024-07-02