爆珠缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411480549.5

申请日：

2024-10-23

公开(公告)号：

CN119006457B

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

李晖李旭陈梅赵福勇

申请人：

贵州大学贵州优联博睿科技有限公司

申请人地址：

550025 贵州省贵阳市花溪区贵州大学西校区

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/44 G06T7/62 G06T7/13 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

北京唯智勤实知识产权代理事务所(普通合伙) 11557

代理人：

姜悦

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

贵州省贵阳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241023
2025-02-28	授权	授权
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

爆珠缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

李晖 ;

李旭 ;

陈梅 ;

赵福勇 .

中国专利 :CN119006457A ,2024-11-22

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

徐崚川 .

中国专利 :CN113379680A ,2021-09-10

[5]

缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

蔡旗 ;

潘华东 ;

殷俊 ;

高美 ;

李中振 .

中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

侯宽旭 .

中国专利 :CN120725952A ,2025-09-30

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐英杰 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

杨顺 .

中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐英杰 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120411071B ,2025-11-07

[10]

缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06

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