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一种硅片刻蚀液、硅片刻蚀方法及硅片
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411431165.4
申请日
:
2024-10-14
公开(公告)号
:
CN119529845A
公开(公告)日
:
2025-02-28
发明(设计)人
:
高祎璠
刘恒
郑学恒
路浩通
申请人
:
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址
:
100085 北京市海淀区永定路50号
IPC主分类号
:
C09K13/08
IPC分类号
:
H01L21/306
H10F77/70
代理机构
:
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人
:
孙晓凤
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-28
公开
公开
2025-03-18
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):C09K 13/08申请日:20241014
共 50 条
[1]
一种硅片刻蚀方法及硅片刻蚀系统
[P].
袁陨来
论文数:
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0
袁陨来
;
吴帅
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吴帅
;
张鹏程
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张鹏程
;
王建波
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王建波
;
吕俊
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吕俊
.
中国专利
:CN114724942A
,2022-07-08
[2]
硅片刻蚀方法
[P].
严利均
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严利均
;
浦远
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浦远
;
黄秋平
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黄秋平
;
许颂临
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许颂临
.
中国专利
:CN104124148B
,2014-10-29
[3]
硅片刻蚀方法
[P].
杨柏
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杨柏
.
中国专利
:CN101162692A
,2008-04-16
[4]
硅片刻蚀方法
[P].
胡竞之
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胡竞之
;
蒋中伟
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蒋中伟
.
中国专利
:CN105097488A
,2015-11-25
[5]
硅片刻蚀方法
[P].
刘厥扬
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刘厥扬
.
中国专利
:CN110767545A
,2020-02-07
[6]
硅片刻蚀方法
[P].
孙静
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孙静
.
中国专利
:CN101179021A
,2008-05-14
[7]
硅片刻蚀方法、DOSD检测方法及硅片刻蚀装置
[P].
衡鹏
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衡鹏
.
中国专利
:CN112349583A
,2021-02-09
[8]
硅片刻蚀装置
[P].
吴佳俊
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机构:
常州亿晶光电科技有限公司
常州亿晶光电科技有限公司
吴佳俊
.
中国专利
:CN113161266B
,2025-08-22
[9]
硅片刻蚀设备
[P].
蒋旭东
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蒋旭东
;
张弛
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张弛
;
王志刚
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王志刚
;
王四海
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王四海
;
蒋成斌
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蒋成斌
;
顾建
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顾建
.
中国专利
:CN111916376A
,2020-11-10
[10]
硅片刻蚀装置
[P].
吴佳俊
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吴佳俊
.
中国专利
:CN113161266A
,2021-07-23
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