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半导体缺陷检测器
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202430419100.2
申请日：
2024-07-05
公开(公告)号：
CN309135096S
公开(公告)日：
2025-02-25
发明(设计)人：
檀小龙
王蝶
任翼
申请人：
武汉三谷工业设计有限公司
申请人地址：
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷·芯中心2-07栋304-2
IPC主分类号：
10-05
IPC分类号：
代理机构：
武汉智正诚专利代理事务所(普通合伙) 42278
代理人：
王诗芳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-02-25 | 授权 | 授权 |