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测量系统、加工系统、测量方法和加工方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202280098332.0
申请日：
2022-06-02
公开(公告)号：
CN119585087A
公开(公告)日：
2025-03-07
发明(设计)人：
中村隆志 增田祥太郎 宫川智树
申请人：
株式会社尼康
申请人地址：
日本东京品川区西大井1-5-20
IPC主分类号：
B25J9/18
IPC分类号：
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
胡林岭
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-07 公开 公开
2025-06-20 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):B25J 9/18申请日:20220602
共 50 条
[1]
测量系统、加工系统、测量方法和加工方法 [P]. 
中村隆志 ;
宫川智树 .
日本专利 :CN119486845A ,2025-02-18
[2]
测量系统以及测量方法 [P]. 
铃木祐太 ;
椹木洋 ;
近藤智则 .
中国专利 :CN110220458A ,2019-09-10
[3]
测量系统、测量装置及测量方法 [P]. 
宫川智树 .
日本专利 :CN120958292A ,2025-11-14
[4]
加工系统和测量系统 [P]. 
一之瀬刚 ;
楠隼太 .
日本专利 :CN119255885A ,2025-01-03
[5]
测量方法及测量系统 [P]. 
张孟卓 ;
薛霞铭 ;
谷文举 ;
张丽炜 ;
曹倩 ;
陈纪喆 .
中国专利 :CN120594335A ,2025-09-05
[6]
测量系统和测量方法 [P]. 
张诏 ;
马强 ;
潘君艳 ;
张杭 ;
李华 ;
王致同 .
中国专利 :CN115825356B ,2025-05-30
[7]
半导体测量系统及半导体测量方法 [P]. 
邵加强 ;
李波 ;
王猛 ;
周子恺 .
中国专利 :CN119959269B ,2025-07-01
[8]
半导体测量系统及半导体测量方法 [P]. 
邵加强 ;
李波 ;
王猛 ;
周子恺 .
中国专利 :CN119959269A ,2025-05-09
[9]
测量系统、控制装置及测量方法 [P]. 
铃木祐太 ;
椹木洋 ;
近藤智则 ;
金谷义宏 .
中国专利 :CN108627118B ,2018-10-09
[10]
视觉测量方法及视觉测量系统 [P]. 
刘海珂 ;
张亚军 ;
任建磊 ;
王宝迪 ;
张永胜 ;
路宏杰 ;
肖兰 ;
夏君 .
中国专利 :CN120576661A ,2025-09-02
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