一种自对准双重图形制作方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010521377.7
申请日
2020-06-10
公开(公告)号
CN113782419B
公开(公告)日
2025-03-18
发明(设计)人
邱岩栈 陈颖儒 刘立尧 胡展源
申请人
上海华力集成电路制造有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
H01L21/033
IPC分类号
H01L21/304 H10D30/01 H10D30/62
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
戴广志
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
一种自对准双重图形制作方法 [P]. 
邱岩栈 ;
陈颖儒 ;
刘立尧 ;
胡展源 .
中国专利 :CN113782419A ,2021-12-10
[2]
自对准双重图形化方法 [P]. 
胡华勇 .
中国专利 :CN103681293B ,2014-03-26
[3]
自对准双重图形化半导体结构的制作方法 [P]. 
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[4]
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[5]
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[6]
自对准双重图形的形成方法 [P]. 
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胡华勇 ;
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中国专利 :CN103681234A ,2014-03-26
[7]
自对准双重图形的形成方法 [P]. 
沈满华 ;
祖延雷 .
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[8]
实现自对准型双重图形的方法 [P]. 
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[9]
自对准双重图形的形成方法 [P]. 
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[10]
双重图形栅极及其制作方法 [P]. 
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