离子注入装置和使用该离子注入装置的半导体器件制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411269684.5
申请日
2024-09-11
公开(公告)号
CN119626877A
公开(公告)日
2025-03-14
发明(设计)人
宣尚佑
申请人
三星电子株式会社
申请人地址
韩国
IPC主分类号
H01J37/317
IPC分类号
H01L21/265
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
张霞;周祺
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
离子注入方法和离子注入装置 [P]. 
刘科 ;
马建坤 ;
曲佳佳 ;
段晋杰 .
中国专利 :CN119864281A ,2025-04-22
[2]
离子注入方法和离子注入装置 [P]. 
浅井博文 ;
桥野义和 .
中国专利 :CN102629543A ,2012-08-08
[3]
离子注入方法和离子注入装置 [P]. 
中尾和浩 .
中国专利 :CN102222595A ,2011-10-19
[4]
使用离子注入制造半导体器件的方法 [P]. 
峰地辉 ;
狮子口清一 ;
斋藤修一 .
中国专利 :CN1130757C ,1999-06-16
[5]
离子注入方法及离子注入装置 [P]. 
笠间泰彦 ;
表研次 ;
横尾邦义 .
中国专利 :CN1906324A ,2007-01-31
[6]
离子注入装置及离子注入方法 [P]. 
越智秀太 ;
二宫史郎 ;
高桥裕二 ;
香川唯信 .
中国专利 :CN108695129B ,2018-10-23
[7]
离子注入装置、离子注入方法 [P]. 
辻康之 .
中国专利 :CN101983413B ,2011-03-02
[8]
离子注入方法及离子注入装置 [P]. 
二宫史郎 ;
工藤哲也 ;
越智昭浩 .
中国专利 :CN102693903A ,2012-09-26
[9]
离子注入装置以及制造半导体器件的方法 [P]. 
M.耶利内克 ;
H-J.舒尔策 ;
W.舒施特雷德 .
中国专利 :CN109390224A ,2019-02-26
[10]
离子注入装置以及制造半导体器件的方法 [P]. 
M.耶利内克 ;
H-J.舒尔策 ;
W.舒施特雷德 .
德国专利 :CN109390224B ,2024-01-12