图像缺陷检测方法、装置、系统和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411658949.0

申请日：

2024-11-20

公开(公告)号：

CN119151945B

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

付伟男王磊余明岭

申请人：

杭州灵西机器人智能科技有限公司

申请人地址：

311100 浙江省杭州市余杭区余杭街道天目山西路360号未来科技城AI产业园4幢1-3层

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/62 G06T7/90 G06V10/764

代理机构：

杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324

代理人：

纪雨辛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241120
2025-03-14	授权	授权
2024-12-17	公开	公开

共 50 条

[1]

图像缺陷检测方法、装置、系统和计算机可读存储介质 [P].

付伟男 ;

王磊 ;

余明岭 .

中国专利 :CN119151945A ,2024-12-17

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

陈振州 ;

江少波 ;

时广军 .

中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02

[4]

缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P].

王家霈 .

中国专利 :CN117764945A ,2024-03-26

[5]

缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

郭一川 ;

路元元 ;

李昭月 ;

柴栋 ;

王洪 .

中国专利 :CN113646801B ,2024-04-02

[6]

缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

郭一川 ;

路元元 ;

李昭月 ;

柴栋 ;

王洪 .

中国专利 :CN113646801A ,2021-11-12

[7]

缺陷检测方法、设备、系统和计算机可读存储介质 [P].

肖枭 ;

时清凯 ;

周金果 ;

范刚 ;

张川 .

中国专利 :CN109426614A ,2019-03-05

[8]

缺陷检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质 [P].

唐高杨 ;

高瞻宇 .

中国专利 :CN120219272A ,2025-06-27

[9]

图像缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

许梓堆 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119579982A ,2025-03-07

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

柳锐 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 ;

易振彧 ;

莫宇 .

中国专利 :CN117011304B ,2024-03-26

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