缺陷检测方法、设备、系统和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811013103.6

申请日：

2018-08-31

公开(公告)号：

CN109426614A

公开(公告)日：

2019-03-05

发明(设计)人：

肖枭时清凯周金果范刚张川

申请人：

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽街道西丽中山园路1001号TCL国际E城C7-C栋201

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F841

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

袁礼君;阚梓瑄

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-05	公开	公开
2019-03-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20180831
2020-04-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:发明人变更前:肖枭时清凯周金果范刚张川变更后:肖枭时清凯周金果范刚
2022-04-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 11/36 申请公布日:20190305

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质 [P].

唐高杨 ;

高瞻宇 .

中国专利 :CN120219272A ,2025-06-27

[2]

刀具缺陷检测方法、检测设备和计算机可读存储介质 [P].

张鹏中 ;

杨海东 .

中国专利 :CN115358983A ,2022-11-18

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

冯豪文 ;

郭师峰 ;

吕高龙 ;

陈丹 ;

冯伟 .

中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22

[4]

缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P].

陈振州 ;

江少波 ;

时广军 .

中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02

[5]

缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

蔡旗 ;

潘华东 ;

殷俊 ;

高美 ;

李中振 .

中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22

[6]

缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P].

王家霈 .

中国专利 :CN117764945A ,2024-03-26

[7]

缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

[8]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[9]

缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[10]

图像缺陷检测方法、装置、系统和计算机可读存储介质 [P].

付伟男 ;

王磊 ;

余明岭 .

中国专利 :CN119151945B ,2025-03-14

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