X射线成像中的数据校正

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011000553.9

申请日：

2020-09-22

公开(公告)号：

CN112562025B

公开(公告)日：

2025-04-11

发明(设计)人：

K·施蒂尔斯托费尔 M·彼得希尔卡 M·胡普费尔 A·希伦布兰德 M·鲍尔-贝克 R·劳帕克

申请人：

西门子医疗股份公司

申请人地址：

德国福希海姆

IPC主分类号：

G06T11/00

IPC分类号：

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

赵林琳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	授权	授权
2024-09-13	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移IPC(主分类):G06T 11/00登记生效日:20240903变更事项:申请人变更前权利人:西门子医疗有限公司变更后权利人:西门子医疗股份公司变更事项:国家或地区变更前权利人:德国变更后权利人:德国变更事项:地址变更前权利人:德国埃朗根变更后权利人:德国福希海姆

共 50 条

[1]

X射线成像中的数据校正 [P].

K·施蒂尔斯托费尔 ;

M·彼得希尔卡 ;

M·胡普费尔 ;

A·希伦布兰德 ;

M·鲍尔-贝克 ;

R·劳帕克 .

中国专利 :CN112562025A ,2021-03-26

[2]

X射线暗场成像中的射束硬化校正 [P].

A·亚罗申科 ;

H-I·马克 ;

T·克勒 ;

F·德马尔科 ;

L·B·格罗曼 ;

K·维勒 ;

P·诺埃尔 .

中国专利 :CN110636796A ,2019-12-31

[3]

用于X射线成像的散射校正 [P].

B·门瑟 ;

P·普林森 ;

D·舍费尔 ;

J·维格特 .

:CN112204607B ,2024-04-19

[4]

用于X射线成像的散射校正 [P].

B·门瑟 ;

P·普林森 ;

D·舍费尔 ;

J·维格特 .

中国专利 :CN112204607A ,2021-01-08

[5]

用于X射线成像中的散射校正的方法和系统 [P].

吴小页 ;

谢强 ;

P.赛纳思 ;

X.刘 .

中国专利 :CN102846333A ,2013-01-02

[6]

用于校正X射线成像中的X射线检测器倾斜的方法和系统 [P].

维纳亚克·雅迪 ;

普拉布·拉贾塞卡兰 ;

纳西尔·艾哈迈德·德赛 ;

阿什维尼·奇卡纳亚卡纳哈利·瓦苏德瓦 .

中国专利 :CN112294344A ,2021-02-02

[7]

用于校正X射线成像中的X射线检测器倾斜的方法和系统 [P].

维纳亚克·雅迪 ;

普拉布·拉贾塞卡兰 ;

纳西尔·艾哈迈德·德赛 ;

阿什维尼·奇卡纳亚卡纳哈利·瓦苏德瓦 .

美国专利 :CN112294344B ,2024-07-16

[8]

X射线成像中的骨抑制 [P].

A·戈森 ;

R·弗洛朗 ;

C·莱夫里耶 ;

J·冯贝格 .

中国专利 :CN104703542A ,2015-06-10

[9]

X射线成像的散射估计和/或校正 [P].

马特斯·丹尼尔松 ;

大卫·迈克尔·霍夫曼 .

中国专利 :CN109917445A ,2019-06-21

[10]

X射线成像的散射估计和/或校正 [P].

马特斯·丹尼尔松 ;

大卫·迈克尔·霍夫曼 .

中国专利 :CN107710020A ,2018-02-16

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