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一种晶棒直径测量装置及晶棒直径测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510098390.9
申请日
:
2025-01-22
公开(公告)号
:
CN119915231A
公开(公告)日
:
2025-05-02
发明(设计)人
:
严涛
申请人
:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
申请人地址
:
710000 陕西省西安市高新区西沣南路1888号1-3-029室
IPC主分类号
:
G01B21/10
IPC分类号
:
G01B21/12
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
赵亮
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-05-20
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/10申请日:20250122
2025-05-02
公开
公开
共 50 条
[1]
一种晶棒直径测量装置及方法
[P].
刘佳奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘佳奇
.
中国专利
:CN111426295B
,2020-07-17
[2]
一种晶棒直径测量装置及方法
[P].
严涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
严涛
.
中国专利
:CN118670330A
,2024-09-20
[3]
一种拉晶炉副炉、晶棒直径测量方法及装置
[P].
秦浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
秦浩
.
中国专利
:CN119737871A
,2025-04-01
[4]
一种拉晶炉副炉、晶棒直径测量方法及装置
[P].
秦浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
秦浩
.
中国专利
:CN119737871B
,2025-10-28
[5]
一种拉晶炉晶棒直径测量装置及方法
[P].
吴超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
吴超
.
中国专利
:CN117737833A
,2024-03-22
[6]
定子直径测量装置及定子直径测量方法
[P].
道下治郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电产株式会社
日本电产株式会社
道下治郎
;
田中阳介
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电产株式会社
日本电产株式会社
田中阳介
.
日本专利
:CN115046519B
,2025-11-18
[7]
定子直径测量装置及定子直径测量方法
[P].
道下治郎
论文数:
0
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0
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0
道下治郎
;
田中阳介
论文数:
0
引用数:
0
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0
田中阳介
.
中国专利
:CN115046519A
,2022-09-13
[8]
晶圆直径测量装置及方法
[P].
彭杰
论文数:
0
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0
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
彭杰
;
刘金麟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
刘金麟
.
中国专利
:CN119786372A
,2025-04-08
[9]
晶圆直径测量装置
[P].
王江
论文数:
0
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0
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0
王江
;
刘瑞
论文数:
0
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0
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0
刘瑞
.
中国专利
:CN201352105Y
,2009-11-25
[10]
单晶棒直径测量装置
[P].
张一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张一
.
中国专利
:CN204286308U
,2015-04-22
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