半导体结构的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110483903.X
申请日
2021-04-30
公开(公告)号
CN115274557B
公开(公告)日
2025-04-29
发明(设计)人
王瑜杰
申请人
中芯南方集成电路制造有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号3号楼5楼
IPC主分类号
H10D84/03
IPC分类号
H10D84/83
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法 [P]. 
陈琛 .
中国专利 :CN115706012A ,2023-02-17
[2]
半导体结构的形成方法 [P]. 
刘震宇 .
中国专利 :CN114765109A ,2022-07-19
[3]
半导体结构的形成方法 [P]. 
王俊杰 ;
张世杰 ;
李承翰 ;
杨怀德 ;
沙哈吉·B·摩尔 ;
潘正扬 .
中国专利 :CN109817582A ,2019-05-28
[4]
半导体结构的形成方法 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN114520148B ,2024-12-24
[5]
半导体结构的形成方法 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115527942A ,2022-12-27
[6]
半导体结构的形成方法 [P]. 
禹国宾 .
中国专利 :CN105336616B ,2016-02-17
[7]
半导体结构的形成方法 [P]. 
刘中元 .
中国专利 :CN114551351A ,2022-05-27
[8]
半导体结构的形成方法 [P]. 
邓浩 .
中国专利 :CN103632978A ,2014-03-12
[9]
半导体结构的形成方法 [P]. 
苏博 ;
于海龙 .
中国专利 :CN115881540B ,2025-11-21
[10]
半导体结构的形成方法 [P]. 
林大文 ;
朱哲民 ;
李宗鸿 ;
曾志宏 ;
林彦君 ;
吴忠政 .
中国专利 :CN102194697B ,2011-09-21