用于半导体器件的测试装置的接触引脚和测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421540010.X

申请日：

2024-07-02

公开(公告)号：

CN222800853U

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

冯伟强吴国星夏摩孟迪亚李永杰余安妮

申请人：

杰冯微电子科技有限公司

申请人地址：

马来西亚雪兰莪州

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

竹民

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	授权	授权

共 50 条

[1]

用于半导体器件的测试装置的接触引脚和测试装置 [P].

冯伟强 ;

吴国星 ;

夏摩孟迪亚 ;

李永杰 .

:CN220552901U ,2024-03-01

[2]

用于半导体器件的测试装置的接触引脚组和测试装置 [P].

冯伟强 ;

吴国星 ;

夏摩孟迪亚 ;

李永杰 ;

吴启杉 .

:CN221078709U ,2024-06-04

[3]

用于半导体器件的测试装置的接触引脚和测试装置 [P].

冯伟强 ;

吴国星 ;

夏摩孟迪亚 ;

李永杰 .

:CN116859095B ,2025-11-21

[4]

用于半导体器件的测试装置的电接触端子和测试装置 [P].

冯伟强 ;

吴国星 ;

夏摩孟迪亚 ;

李永杰 .

:CN220490875U ,2024-02-13

[5]

用于半导体器件的测试装置 [P].

丘炜光 ;

陈新军 ;

谢景祺 ;

柏铭 .

中国专利 :CN223597818U ,2025-11-25

[6]

半导体器件的测试装置 [P].

陈伟 ;

徐勇 ;

叶建国 ;

韩宙 ;

程华胜 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN205786998U ,2016-12-07

[7]

用于半导体器件测试的测试装置 [P].

叶守银 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王锦 ;

陈燕 .

中国专利 :CN102707219A ,2012-10-03

[8]

用于测试半导体器件的方法和半导体器件测试装置 [P].

许顺来 ;

邱尔万 .

德国专利 :CN118625083A ,2024-09-10

[9]

半导体器件测试装置 [P].

杨浩 .

中国专利 :CN214795085U ,2021-11-19

[10]

半导体器件测试装置 [P].

吴胜 ;

王锋 ;

徐祁华 .

中国专利 :CN217766707U ,2022-11-08

← 1 2 3 4 5 →