用于测试系统的对准装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411643224.4

申请日：

2024-11-18

公开(公告)号：

CN120020524A

公开(公告)日：

2025-05-20

发明(设计)人：

理查德·A·迈尔大卫·蔡莱利·奥古斯特·罗戈茨克

申请人：

伊利诺斯工具制品有限公司

申请人地址：

美国伊利诺伊州

IPC主分类号：

G01N3/62

IPC分类号：

G01N3/08 G01N3/04 G01D18/00 G01L5/00

代理机构：

上海脱颖律师事务所 31259

代理人：

脱凡

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 3/62申请日:20241118
2025-05-20	公开	公开

共 50 条

[1]

利用接触对准的封装测试系统和方法 [P].

M.普拉布胡古德 ;

A.J.霍伊廷克 ;

A.M.德托夫斯基 ;

J.F.沃尔齐克 .

中国专利 :CN107728038B ,2018-02-23

[2]

用于眼底摄像装置的自动校准和对准的系统和方法 [P].

阿达尔什·梅恩迪拉塔 ;

阿哈迈德哈利勒·乌迪亚瓦尔阿卜杜勒 ;

安基特·莫尔亚 ;

安德斯·艾肯内斯 ;

汉斯艾纳尔·厄弗约杜特 ;

萨塔克·普拉卡什 ;

尤卡·阿拉西尔尼奥 .

:CN118435237A ,2024-08-02

[3]

用于测试气体传感器的系统、装置和方法 [P].

R·山波霍格 ;

N·A·库马尔 ;

P·A·K·A·贾亚库马尔 .

美国专利 :CN120352569A ,2025-07-22

[4]

用于对准掩模段的对准装置和方法 [P].

T·K·克拉克 .

中国专利 :CN1279629C ,2003-06-18

[5]

用于对准照明装置的方法和系统 [P].

C·D·诺兰 ;

J·J·维特科夫斯基 ;

J·J·卡斯珀 ;

B·D·沃尔默 .

中国专利 :CN108603653A ,2018-09-28

[6]

用于对准基板的方法和装置 [P].

J·克罗尔 .

中国专利 :CN114730719A ,2022-07-08

[7]

用于对准基板的方法和装置 [P].

J·克罗尔 .

:CN114730719B ,2025-12-30

[8]

对准误差的测试方法、调整方法、测试系统和存储介质 [P].

骆晓东 .

中国专利 :CN113093482B ,2021-07-09

[9]

用于对准基板的装置和方法 [P].

D·辛纳 ;

F·P·林德纳 ;

T·普拉奇 ;

P·斯塔岑格鲁伯 .

:CN115398133B ,2025-06-13

[10]

用于对准基板的装置和方法 [P].

D·辛纳 ;

F·P·林德纳 ;

T·普拉奇 ;

P·斯塔岑格鲁伯 .

中国专利 :CN115398133A ,2022-11-25

← 1 2 3 4 5 →