背面金属层的刻蚀方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510208359.6
申请日
2025-02-25
公开(公告)号
CN120015624A
公开(公告)日
2025-05-16
发明(设计)人
任婷婷 姚道州 杨鑫 杜保田 惠科石 王玉新
申请人
华虹半导体(无锡)有限公司
申请人地址
214028 江苏省无锡市新吴区新洲路30号
IPC主分类号
H01L21/3213
IPC分类号
H01J37/32
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
戴广志
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 无锡市
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共 50 条
[1]
金属层的刻蚀方法 [P]. 
梅娜 ;
王重阳 .
中国专利 :CN101882596A ,2010-11-10
[2]
薄膜金属层的刻蚀方法及薄膜金属层的刻蚀结构 [P]. 
唐晓赫 ;
李仕俊 ;
常青松 ;
姜永娜 ;
袁彪 ;
刘晓红 ;
杨阳阳 ;
屈建洋 ;
韩宏远 ;
刘文涛 ;
董占红 ;
席红英 ;
侯小鹏 ;
梁楚楚 ;
安丽丽 .
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[3]
厚金属层的刻蚀方法 [P]. 
喻彪 .
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[4]
背面金属格栅的硬掩膜的刻蚀方法 [P]. 
张守龙 ;
任婷婷 ;
姚道州 ;
杨鑫 ;
杜保田 ;
汪健 ;
惠科石 ;
王玉新 ;
赵正元 .
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[5]
顶层金属层沟槽的刻蚀方法 [P]. 
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[6]
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布鲁诺·斯普勒 ;
威林德尔·格雷沃 ;
成田雅喜 ;
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[7]
背面金属格栅的硬掩膜的刻蚀方法 [P]. 
张守龙 ;
任婷婷 ;
姚道州 ;
杨鑫 ;
杜保田 ;
汪健 ;
惠科石 ;
王玉新 ;
赵正元 .
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[8]
一种背面金属栅格刻蚀方法 [P]. 
吴志刚 .
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[9]
一种金属膜层的刻蚀方法 [P]. 
门元帅 ;
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[10]
一种金属层的刻蚀方法 [P]. 
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