一种分层测试射频芯片高频性能测试夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420892240.6

申请日：

2024-04-26

公开(公告)号：

CN222838087U

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

王国华李泽林张华崔洁

申请人：

成都华轺科技有限公司

申请人地址：

610213 四川省成都市天府新区华阳华新上街47号1层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

深圳市华腾知识产权代理有限公司 44370

代理人：

彭年才

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种分层测试射频芯片高频性能测试夹具 [P].

王国华 ;

李泽林 ;

张华 .

中国专利 :CN118425570A ,2024-08-02

[2]

一种单面射频芯片高频性能测试夹具 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN220773111U ,2024-04-12

[3]

一种射频芯片高频性能测试校准夹具 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN221899212U ,2024-10-25

[4]

射频芯片测试夹具 [P].

王文娟 ;

沙长涛 ;

阚劲松 ;

王酣 ;

赵昭 ;

邢荣欣 .

中国专利 :CN206684193U ,2017-11-28

[5]

一种射频芯片测试夹具 [P].

陈华东 .

中国专利 :CN222269962U ,2024-12-31

[6]

一种射频芯片用测试夹具 [P].

陈莹 .

中国专利 :CN213091714U ,2021-04-30

[7]

一种射频芯片测试用夹具 [P].

郑新年 ;

柯庆福 ;

黄继伟 ;

孙凯 .

中国专利 :CN221976953U ,2024-11-08

[8]

一种射频芯片高频性能测试工艺及其夹具 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN119471290A ,2025-02-18

[9]

一种基于射频芯片性能测试的夹具 [P].

全光浩 ;

崔松一 .

中国专利 :CN221774324U ,2024-09-27

[10]

一种高性能芯片测试夹具 [P].

唐维强 .

中国专利 :CN205539072U ,2016-08-31

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