原子层沉积装置及原子层沉积的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN202311755137.3
申请日
2023-12-19
公开(公告)号
CN120174344A
公开(公告)日
2025-06-20
发明(设计)人
杨士逸
申请人
奥恒科技股份有限公司
申请人地址
中国香港
IPC主分类号
C23C16/455
IPC分类号
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
王侠
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
原子层沉积装置 [P]. 
杨士逸 .
中国专利 :CN221398037U ,2024-07-23
[2]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
刘良文 ;
闫晓晖 ;
拉海忠 .
中国专利 :CN119800330A ,2025-04-11
[3]
原子层沉积方法及原子层沉积装置 [P]. 
叶长福 ;
魏鼎 ;
吕佐文 .
中国专利 :CN117265508B ,2025-09-26
[4]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
李名言 ;
吴孝哲 ;
蔡文立 .
中国专利 :CN101333648A ,2008-12-31
[5]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
郭世根 ;
项金娟 ;
刘青 .
中国专利 :CN114351116B ,2024-12-31
[6]
原子层沉积装置及原子层沉积方法 [P]. 
郭世根 ;
项金娟 ;
刘青 .
中国专利 :CN114351116A ,2022-04-15
[7]
原子层沉积装置及原子层沉积系统 [P]. 
曹生贤 .
中国专利 :CN106030848B ,2016-10-12
[8]
原子层沉积方法和原子层沉积装置 [P]. 
佐藤英儿 ;
坂本仁志 .
日本专利 :CN120153123A ,2025-06-13
[9]
原子层沉积装置和原子层沉积方法 [P]. 
龟田直人 ;
三浦敏德 ;
花仓满 .
中国专利 :CN114286875A ,2022-04-05
[10]
原子层沉积装置和原子层沉积方法 [P]. 
长井博之 ;
桑山哲朗 .
中国专利 :CN104141117B ,2014-11-12