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FPGA测试方法、装置、介质、及终端
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510327243.4
申请日：
2025-03-19
公开(公告)号：
CN120162295A
公开(公告)日：
2025-06-17
发明(设计)人：
殷磊
李勋
申请人：
南京金阵微电子技术有限公司
申请人地址：
210000 江苏省南京市中国（江苏）自由贸易试验区南京片区研创园团结路99号孵鹰大厦2251室
IPC主分类号：
G06F15/78
IPC分类号：
代理机构：
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人：
王国祥
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省
南京市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-06-17 | 公开 | 公开 |
| 2025-07-04 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 15/78申请日:20250319 |