一种基于神经网络与维纳过程的电机剩余寿命预测方法

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专利类型
发明
申请号
CN202510502250.3
申请日
2025-04-22
公开(公告)号
CN120372960A
公开(公告)日
2025-07-25
发明(设计)人
张一童 马海峰 王垚雄 张钰奇 杨富旺 任人 李文番 王军雄 刘保荣 张霄嵩 代昌华
申请人
西北机电工程研究所
申请人地址
712099 陕西省咸阳市渭城区毕塬东路5号
IPC主分类号
G06F30/20
IPC分类号
G01R31/34 G06F30/27 G06F17/18 G06N3/0499 G06N3/084 G06N3/086 G06N3/09 G06N3/126 G06F111/08 G06F119/02
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共 50 条
[1]
一种结合LSTM网络和维纳过程的剩余寿命预测方法 [P]. 
刘震 ;
陈啸午 ;
龙兵 ;
周秀云 .
中国专利 :CN114646891A ,2022-06-21
[2]
一种时变神经维纳过程的轴承剩余寿命预测方法 [P]. 
尹爱军 ;
龙振东 .
中国专利 :CN115526295A ,2022-12-27
[3]
一种基于维纳过程的风力发电机组叶片剩余寿命预测方法 [P]. 
庞宇 ;
顾昊言 ;
刘展 .
中国专利 :CN120217695A ,2025-06-27
[4]
基于维纳过程和极限学习机的电池剩余寿命预测方法 [P]. 
刘震 ;
陈啸午 ;
程玉华 ;
白利兵 .
中国专利 :CN114859231A ,2022-08-05
[5]
基于神经网络的裂纹扩展参数识别与剩余寿命预测方法 [P]. 
龙湘云 ;
廖望望 ;
姜潮 .
中国专利 :CN119089785A ,2024-12-06
[6]
基于神经网络的裂纹扩展参数识别与剩余寿命预测方法 [P]. 
龙湘云 ;
廖望望 ;
姜潮 .
中国专利 :CN119089785B ,2025-06-06
[7]
基于物理信息神经维纳过程的关键零部件剩余使用寿命预测方法 [P]. 
尹爱军 ;
乔朝辉 ;
魏一波 .
中国专利 :CN120951787A ,2025-11-14
[8]
神经网络与随机过程结合的MOSFET器件剩余使用寿命预测方法 [P]. 
吕帅 ;
刘淑杰 ;
李宏坤 ;
王宇 ;
刘耕硕 .
中国专利 :CN119378382A ,2025-01-28
[9]
基于节点温差和神经网络的功率器件剩余寿命预测方法 [P]. 
王惠民 ;
敬德宝 ;
许智亮 ;
陈肯 ;
葛兴来 .
中国专利 :CN119203776A ,2024-12-27
[10]
一种基于多阶段维纳过程的锂电池剩余寿命预测方法 [P]. 
柴毅 ;
冯飞 ;
林文乙 ;
李硕 ;
谢非 .
中国专利 :CN119780729A ,2025-04-08