用于减少半导体测试中错误日志所需空间的系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410350827.9

申请日：

2024-03-26

公开(公告)号：

CN120375901A

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

迈克·侯赛因·阿米迪

申请人：

睿进记忆体有限公司

申请人地址：

中国香港新界区葵涌青山道552-566号美达中心11楼1-6A室

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

万慧华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	公开	公开
2025-08-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240326

共 50 条

[1]

低温减少半导体测试所需空间的系统和方法 [P].

迈克·侯赛因·阿米迪 .

中国专利 :CN120977368A ,2025-11-18

[2]

用于半导体测试的方法和装置 [P].

石塚好司 .

中国专利 :CN1825129A ,2006-08-30

[3]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

[4]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[5]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[6]

半导体测试系统、设计方法、测试方法和测试装置 [P].

鹿祥宾 ;

王立城 ;

贺骏 ;

赵文仙 ;

刘佳艺 ;

鲁鹏 ;

刘波 ;

张肖 ;

郭俊涛 .

中国专利 :CN120214526A ,2025-06-27

[7]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[8]

提高半导体测试系统产能的方法及半导体测试系统 [P].

李全任 ;

毛国梁 .

中国专利 :CN111564383B ,2020-08-21

[9]

用于测试半导体装置的设备和方法 [P].

李敬淑 ;

朴钟必 ;

具权本 ;

金彣锡 ;

闵丙准 .

中国专利 :CN104112480A ,2014-10-22

[10]

半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法 [P].

冯宇翔 ;

左安超 .

中国专利 :CN115608654B ,2024-03-19

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