半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211021284.3

申请日：

2022-08-24

公开(公告)号：

CN115608654B

公开(公告)日：

2024-03-19

发明(设计)人：

冯宇翔左安超

申请人：

广东汇芯半导体有限公司

申请人地址：

528000 广东省佛山市南海区丹灶镇仙湖度假区养生路10号之一

IPC主分类号：

B07C5/344

IPC分类号：

代理机构：

深圳市辰为知识产权代理事务所(普通合伙) 44719

代理人：

陈建昌

法律状态：

授权

国省代码：

广东省佛山市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-19	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法 [P].

冯宇翔 ;

左安超 .

中国专利 :CN115608654A ,2023-01-17

[2]

半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法 [P].

左安超 ;

谢荣才 ;

王敏 .

中国专利 :CN113770066A ,2021-12-10

[3]

半导体测试电路、半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

吉田满 .

中国专利 :CN109073705A ,2018-12-21

[4]

半导体测试电路、半导体存储器件和半导体测试方法 [P].

齐藤修一 .

中国专利 :CN100344983C ,2004-10-06

[5]

测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统 [P].

金东旭 .

中国专利 :CN112435708A ,2021-03-02

[6]

半导体电路和半导体电路的制造方法 [P].

冯宇翔 ;

黄浩 ;

张土明 .

中国专利 :CN114188292A ,2022-03-15

[7]

半导体电路和半导体电路的制备方法 [P].

冯宇翔 ;

潘志坚 ;

张土明 ;

谢荣才 .

中国专利 :CN113823620A ,2021-12-21

[8]

半导体电路和半导体电路的制备方法 [P].

王敏 ;

左安超 ;

谢荣才 .

中国专利 :CN113314515A ,2021-08-27

[9]

半导体电路和半导体电路的制造方法 [P].

冯宇翔 ;

潘志坚 ;

张土明 ;

左安超 .

中国专利 :CN113809020A ,2021-12-17

[10]

半导体电路和半导体电路的制造方法 [P].

冯宇翔 ;

潘志坚 ;

张土明 ;

谢荣才 .

中国专利 :CN113825301A ,2021-12-21

← 1 2 3 4 5 →