半导体结构及半导体结构的制作方法

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专利类型
发明
申请号
CN202110813115.2
申请日
2021-07-19
公开(公告)号
CN115642156B
公开(公告)日
2025-09-09
发明(设计)人
赵文礼 白杰
申请人
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H10D84/85
IPC分类号
H10D84/03
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构及半导体结构的制作方法 [P]. 
赵文礼 ;
白杰 .
中国专利 :CN115642156A ,2023-01-24
[2]
半导体结构及半导体结构的制作方法 [P]. 
张魁 ;
应战 .
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半导体结构的制作方法及半导体结构 [P]. 
王晓光 ;
李辉辉 ;
章纬 .
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[5]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
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白杰 .
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[6]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
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[7]
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[8]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
卢经文 ;
洪海涵 .
中国专利 :CN113097209B ,2021-07-09
[9]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
马经纶 .
中国专利 :CN114446955A ,2022-05-06
[10]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
曹新满 ;
刘忠明 ;
夏军 ;
白世杰 .
中国专利 :CN114446887B ,2024-10-18