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半导体结构的形成方法和半导体结构
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510970276.0
申请日
:
2025-07-14
公开(公告)号
:
CN120769558A
公开(公告)日
:
2025-10-10
发明(设计)人
:
李玉堂
汪维金
李望
王子健
谢静怡
蒋小涵
申请人
:
广州增芯科技有限公司
申请人地址
:
511356 广东省广州市增城区宁西街创优路333号
IPC主分类号
:
H10D84/01
IPC分类号
:
H10D84/85
代理机构
:
上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343
代理人
:
张菁
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-10
公开
公开
2025-10-28
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10D 84/01申请日:20250714
共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法和半导体结构
[P].
汪维金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
汪维金
;
李望
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
李望
;
陈时杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
陈时杰
;
陈铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
陈铭
;
何丽美
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
何丽美
;
邱楚濠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
邱楚濠
.
中国专利
:CN120711749A
,2025-09-26
[2]
半导体结构的形成方法和半导体结构
[P].
陈昱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州增芯科技有限公司
广州增芯科技有限公司
陈昱
.
中国专利
:CN121126816A
,2025-12-12
[3]
半导体结构和形成半导体结构的方法
[P].
E·J·诺瓦克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
E·J·诺瓦克
;
B·A·安德森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
B·A·安德森
.
中国专利
:CN101257030B
,2008-09-03
[4]
半导体结构以及半导体结构的形成方法
[P].
于有权
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
于有权
;
吴公一
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
吴公一
;
张仕然
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张仕然
.
中国专利
:CN114284202B
,2025-01-10
[5]
半导体结构以及半导体结构的形成方法
[P].
于有权
论文数:
0
引用数:
0
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0
于有权
;
吴公一
论文数:
0
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0
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0
吴公一
;
张仕然
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张仕然
.
中国专利
:CN114284202A
,2022-04-05
[6]
形成半导体结构的方法和半导体结构
[P].
辛格·古尔巴格
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
辛格·古尔巴格
;
王柏仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
王柏仁
;
庄坤苍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
庄坤苍
.
中国专利
:CN113206041B
,2025-06-03
[7]
形成半导体结构的方法和半导体结构
[P].
辛格·古尔巴格
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
辛格·古尔巴格
;
王柏仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王柏仁
;
庄坤苍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庄坤苍
.
中国专利
:CN113206041A
,2021-08-03
[8]
半导体结构的形成方法
[P].
胡华勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡华勇
.
中国专利
:CN103531444B
,2014-01-22
[9]
半导体结构的形成方法
[P].
李广济
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
李广济
.
中国专利
:CN119108337B
,2025-12-02
[10]
半导体结构的形成方法
[P].
李广济
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
李广济
.
中国专利
:CN119108337A
,2024-12-10
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