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一种自动曝光控制的红外探测器的非均匀校正方法和装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510868817.9
申请日
:
2025-06-26
公开(公告)号
:
CN120711308A
公开(公告)日
:
2025-09-26
发明(设计)人
:
孙宪中
姜维维
马静
修鹏
刘加奇
赵慧圆
周健
李兆星
申请人
:
北京环境特性研究所
申请人地址
:
100854 北京市海淀区永定路50号
IPC主分类号
:
H04N25/671
IPC分类号
:
H04N23/23
H04N23/80
H04N23/73
代理机构
:
北京格允知识产权代理有限公司 11609
代理人
:
赵雅香
法律状态
:
公开
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-26
公开
公开
2025-10-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H04N 25/671申请日:20250626
共 50 条
[1]
一种短波红外探测器非均匀校正方法及装置
[P].
赵凯生
论文数:
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赵凯生
;
汪江华
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汪江华
;
潘晓东
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潘晓东
.
中国专利
:CN103065280A
,2013-04-24
[2]
红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置
[P].
张绍达
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张绍达
;
黎琼
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
黎琼
;
蔡仲雨
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
蔡仲雨
;
张政
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张政
;
杨海朋
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
杨海朋
.
中国专利
:CN121185437A
,2025-12-23
[3]
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法
[P].
余达
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余达
;
刘金国
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刘金国
;
周怀得
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周怀得
;
姜肖楠
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姜肖楠
;
杨亮
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杨亮
;
黄斌
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黄斌
;
李嘉
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李嘉
.
中国专利
:CN111741243A
,2020-10-02
[4]
一种紫外探测器的非均匀校正方法
[P].
孙小亮
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孙小亮
;
毛义伟
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毛义伟
;
赵凯生
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赵凯生
;
潘晓东
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潘晓东
;
赵菲菲
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赵菲菲
;
王晓娟
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王晓娟
.
中国专利
:CN105509879A
,2016-04-20
[5]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
论文数:
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机构:
聂婷
;
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138B
,2024-03-19
[6]
一种探测器非均匀校正方法和系统
[P].
蔡李靖
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蔡李靖
;
黄尔齐
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黄尔齐
;
邓智威
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邓智威
;
字崇德
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字崇德
;
陈林森
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0
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陈林森
.
中国专利
:CN111998958A
,2020-11-27
[7]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
论文数:
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机构:
聂婷
;
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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0
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138A
,2024-02-20
[8]
基于FPGA的红外线列探测器非均匀校正方法和装置
[P].
贾俊涛
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0
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贾俊涛
;
黄红蓉
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黄红蓉
.
中国专利
:CN103095963A
,2013-05-08
[9]
校正红外探测器的非均匀性的方法及装置
[P].
张鸿波
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张鸿波
;
李成世
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李成世
;
刘子骥
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刘子骥
.
中国专利
:CN108519160A
,2018-09-11
[10]
一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置
[P].
戚栋栋
论文数:
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戚栋栋
.
中国专利
:CN107976255B
,2018-05-01
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