一种基于自步过采样集成学习的静态软件缺陷预测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411618826.4
申请日
2024-11-13
公开(公告)号
CN119645803B
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
万晓晖 岳才杰 刘亮 刘辉 付元昊 姜丽 叶思远
申请人
苏州空天信息研究院
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖大道158
IPC主分类号
G06F11/3604
IPC分类号
G06F18/243 G06N20/20 G06F18/214
代理机构
南京理工大学专利中心 32203
代理人
封睿
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于自步过采样集成学习的静态软件缺陷预测方法 [P]. 
万晓晖 ;
岳才杰 ;
刘亮 ;
刘辉 ;
付元昊 ;
姜丽 ;
叶思远 .
中国专利 :CN119645803A ,2025-03-18
[2]
一种基于特征集划分和集成学习的软件缺陷预测方法 [P]. 
李璐璐 ;
任洪敏 ;
朱云龙 ;
卢晓喆 .
中国专利 :CN111400180A ,2020-07-10
[3]
一种基于采样和集成学习的软件缺陷预测方法 [P]. 
徐小龙 ;
封功业 ;
肖甫 .
中国专利 :CN113326182B ,2021-08-31
[4]
一种基于数据过采样和集成学习的软件缺陷数目预测方法 [P]. 
余啸 ;
刘进 ;
周培培 ;
崔晓晖 ;
伍蔓 ;
井溢洋 .
中国专利 :CN107391370A ,2017-11-24
[5]
一种基于联邦学习的软件缺陷预测隐私保护方法 [P]. 
蔡奇龙 ;
岳野 ;
刘望舒 ;
邵允学 .
中国专利 :CN115309647A ,2022-11-08
[6]
基于联邦学习的跨项目软件缺陷预测方法 [P]. 
邵允学 ;
李金玫 .
中国专利 :CN118760584A ,2024-10-11
[7]
一种基于Stacking集成学习的软件缺陷预测方法 [P]. 
单纯 ;
张浩伦 ;
廖书妍 ;
周彦哲 ;
彭哲恒 .
中国专利 :CN114706780A ,2022-07-05
[8]
一种基于Stacking集成学习的软件缺陷预测方法 [P]. 
单纯 ;
张浩伦 ;
廖书妍 ;
周彦哲 ;
彭哲恒 .
中国专利 :CN114706780B ,2024-07-19
[9]
一种基于信息熵过采样的软件缺陷预测方法及系统 [P]. 
严远亭 ;
苏振 ;
张以文 ;
张燕平 .
中国专利 :CN114490386B ,2025-02-14
[10]
一种基于信息熵过采样的软件缺陷预测方法及系统 [P]. 
严远亭 ;
苏振 ;
张以文 ;
张燕平 .
中国专利 :CN114490386A ,2022-05-13