半导体晶片的分割方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111176592.9
申请日
2021-10-09
公开(公告)号
CN114975103B
公开(公告)日
2025-11-18
发明(设计)人
松尾泰弘
申请人
三菱电机株式会社
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L21/304
IPC分类号
H01L21/67
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
张青;卢英日
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
分割半导体晶片的方法 [P]. 
川合章仁 .
中国专利 :CN1534763A ,2004-10-06
[2]
半导体晶片的分割方法 [P]. 
卡尔·H.·普利韦瑟 .
中国专利 :CN1601705A ,2005-03-30
[3]
分割半导体晶片的方法 [P]. 
有田洁 ;
钟贝笃史 .
中国专利 :CN101796628A ,2010-08-04
[4]
用于分割半导体晶片的方法 [P]. 
C·拜尔 ;
F·J·桑托斯罗德里格斯 ;
H-J·舒尔茨 ;
M·D·斯沃博达 .
中国专利 :CN114787985A ,2022-07-22
[5]
使用激光的半导体晶片分割方法 [P]. 
永井祐介 ;
小林贤史 .
中国专利 :CN1577726A ,2005-02-09
[6]
分割半导体晶片的方法和半导体器件的制造方法 [P]. 
土师宏 ;
有田洁 ;
中川显 ;
野田和宏 .
中国专利 :CN101036224A ,2007-09-12
[7]
沿片条分割半导体晶片的方法 [P]. 
荒井一尚 ;
藤泽晋一 ;
松桥凉 ;
小野贵司 ;
船中俊宏 ;
蜂谷润 ;
川合章仁 .
中国专利 :CN1779917A ,2006-05-31
[8]
半导体晶片的制造方法及半导体晶片 [P]. 
牧野亮平 ;
熊田贵夫 ;
江户雅晴 ;
高木启史 .
中国专利 :CN104064444A ,2014-09-24
[9]
半导体晶片的研磨方法及半导体晶片 [P]. 
桥本大辅 ;
又川敏 ;
桥井友裕 .
中国专利 :CN109643650A ,2019-04-16
[10]
半导体晶片的评价方法和半导体晶片 [P]. 
森敬一朗 .
中国专利 :CN108027330A ,2018-05-11