晶圆承载装置、晶圆测试设备及其晶圆测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310717310.4
申请日
2023-06-16
公开(公告)号
CN116666295B
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
张海
申请人
匠岭科技(上海)有限公司
申请人地址
200000 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
H01L21/683
IPC分类号
H01L21/687 H01L21/66
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
晶圆承载装置及晶圆测试设备 [P]. 
胡楠 ;
叶波 ;
胡鹏飞 ;
邱国志 .
中国专利 :CN222355112U ,2025-01-14
[2]
晶圆承载机构及晶圆测试设备 [P]. 
罗伟 ;
叶小波 ;
杜春 .
中国专利 :CN120102944A ,2025-06-06
[3]
晶圆承载机构及晶圆测试设备 [P]. 
罗伟 ;
叶小波 ;
杜春 .
中国专利 :CN120102944B ,2025-09-12
[4]
晶圆测试用晶圆承载结构 [P]. 
李道东 ;
田程 ;
刘达开 .
中国专利 :CN119181671A ,2024-12-24
[5]
晶圆测试方法和晶圆测试设备 [P]. 
王晋 ;
李赛珂 ;
段泽洋 ;
杨菊生 .
中国专利 :CN119480763A ,2025-02-18
[6]
晶圆测试方法、晶圆测试装置以及晶圆测试系统 [P]. 
刘宏志 .
中国专利 :CN109856527A ,2019-06-07
[7]
晶圆测试方法、晶圆测试装置以及晶圆测试系统 [P]. 
刘宏志 .
中国专利 :CN108983072B ,2018-12-11
[8]
晶圆测试盒、晶圆测试系统及晶圆测试方法 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
中国专利 :CN119644097A ,2025-03-18
[9]
晶圆测试结构、晶圆以及晶圆的测试方法 [P]. 
陈亮 .
中国专利 :CN109904091B ,2019-06-18
[10]
晶圆承载卡盘及晶圆测试系统 [P]. 
李明 ;
赵远勇 ;
李玉科 .
中国专利 :CN216213269U ,2022-04-05