缺陷检测方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511073322.3

申请日：

2025-07-31

公开(公告)号：

CN120891006A

公开(公告)日：

2025-11-04

发明(设计)人：

刘景贤潘慧

申请人：

联想（北京）有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地西路6号2幢2层201-H2-6

IPC主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/88 G06T7/00

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

张静

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-04	公开	公开
2025-11-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/956申请日:20250731

共 50 条

[1]

缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114972173B ,2025-06-03

[2]

缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统 [P].

陈鲁 ;

吕肃 ;

刘欢敏 ;

张嵩 .

中国专利 :CN115222699B ,2025-10-31

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

[4]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[5]

缺陷检测设备和缺陷检测方法 [P].

甘迎金 ;

李朝垒 ;

蒋耀华 ;

李凯强 ;

简活滕 ;

杨磊 ;

宗岩 ;

丁勇 ;

刘康 ;

任晓东 ;

贺宝禄 ;

刘百 ;

杨双双 ;

吴锦合 ;

张丹 .

中国专利 :CN118243697A ,2024-06-25

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[7]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[8]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[9]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[10]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

← 1 2 3 4 5 →