一种用于MTP存储器的内建自测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410496368.5

申请日：

2024-04-24

公开(公告)号：

CN120833836A

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

陈楚淮袁国顺周浩

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G11C29/18

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386

代理人：

刘镜

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-24	公开	公开
2025-11-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20240424

共 50 条

[1]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03

[2]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336A ,2024-10-22

[3]

存储器的内建自测试系统 [P].

彭涛 .

中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16

[4]

存储器的内建自测试系统 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17

[5]

存储器内建自测试方法 [P].

杨修 ;

唐杜娟 .

中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07

[6]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[7]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[8]

存储器的内建自测试系统的测试方法 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164512A ,2025-06-17

[9]

一种存储器的内建自测试电路和存储器 [P].

崔小乐 ;

魏枫 .

中国专利 :CN118588146A ,2024-09-03

[10]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

← 1 2 3 4 5 →