学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种存储器的内建自测试电路和存储器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410490787.8
申请日
:
2024-04-23
公开(公告)号
:
CN118588146A
公开(公告)日
:
2024-09-03
发明(设计)人
:
崔小乐
魏枫
申请人
:
北京大学深圳研究生院
申请人地址
:
518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城北大园区H栋208室
IPC主分类号
:
G11C29/12
IPC分类号
:
G11C29/18
G11C29/14
代理机构
:
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人
:
郭燕;彭家恩
法律状态
:
公开
国省代码
:
北京市 市辖区
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-09-03
公开
公开
2024-11-26
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20240423
共 50 条
[1]
存储器芯片内建自测试电路装置
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN208655247U
,2019-03-26
[2]
存储器内建自测试电路
[P].
李鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李鸣
.
中国专利
:CN102903393B
,2013-01-30
[3]
内建自测试电路及存储器
[P].
陆天辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫科技集团股份有限公司
长鑫科技集团股份有限公司
陆天辰
.
中国专利
:CN119694372A
,2025-03-25
[4]
内建自测试电路及存储器
[P].
陆天辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫科技集团股份有限公司
长鑫科技集团股份有限公司
陆天辰
.
中国专利
:CN119694372B
,2025-10-21
[5]
一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器
[P].
孙圆圆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
孙圆圆
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王佳
;
张瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张瑞
.
中国专利
:CN119296623A
,2025-01-10
[6]
存储器的内建自测试系统
[P].
彭涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭涛
.
中国专利
:CN111292795B
,2020-06-16
[7]
存储器芯片内建自测试方法和电路装置
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN110875080A
,2020-03-10
[8]
存储器芯片内建自测试方法和电路装置
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
杨正杰
.
中国专利
:CN110875080B
,2025-02-07
[9]
存储器内建自测试方法
[P].
杨修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨修
;
唐杜娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐杜娟
.
中国专利
:CN101339811A
,2009-01-07
[10]
存储器的内建自测试系统
[P].
王建群
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京时代全芯存储技术股份有限公司
北京时代全芯存储技术股份有限公司
王建群
;
徐成宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京时代全芯存储技术股份有限公司
北京时代全芯存储技术股份有限公司
徐成宇
.
中国专利
:CN120164513A
,2025-06-17
←
1
2
3
4
5
→