一种存储器的内建自测试电路和存储器

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专利类型
发明
申请号
CN202410490787.8
申请日
2024-04-23
公开(公告)号
CN118588146A
公开(公告)日
2024-09-03
发明(设计)人
崔小乐 魏枫
申请人
北京大学深圳研究生院
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城北大园区H栋208室
IPC主分类号
G11C29/12
IPC分类号
G11C29/18 G11C29/14
代理机构
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人
郭燕;彭家恩
法律状态
公开
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
存储器芯片内建自测试电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN208655247U ,2019-03-26
[2]
存储器内建自测试电路 [P]. 
李鸣 .
中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30
[3]
内建自测试电路及存储器 [P]. 
陆天辰 .
中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25
[4]
内建自测试电路及存储器 [P]. 
陆天辰 .
中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21
[5]
一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 ;
张瑞 .
中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10
[6]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
彭涛 .
中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16
[7]
存储器芯片内建自测试方法和电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN110875080A ,2020-03-10
[8]
存储器芯片内建自测试方法和电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN110875080B ,2025-02-07
[9]
存储器内建自测试方法 [P]. 
杨修 ;
唐杜娟 .
中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07
[10]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
王建群 ;
徐成宇 .
中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17