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存储器芯片内建自测试方法和电路装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201810995279.X
申请日：
2018-08-29
公开(公告)号：
CN110875080A
公开(公告)日：
2020-03-10
发明(设计)人：
杨正杰
申请人：
申请人地址：
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
北京市铸成律师事务所 11313
代理人：
张臻贤;武晨燕
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-03-10 | 公开 | 公开 |
| 2020-04-03 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20180829 |