半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510810006.3
申请日
2025-06-17
公开(公告)号
CN120813039A
公开(公告)日
2025-10-17
发明(设计)人
王寳明 陈佳政 陈建豪 周孟翰 张玮廷 刘书豪
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H10D84/01
IPC分类号
H10D84/83
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
龙俊名 ;
林颂恩 .
中国专利 :CN120676653A ,2025-09-19
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
吴忠育 ;
曾自立 ;
林俐齐 .
中国专利 :CN114999997A ,2022-09-02
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105655253B ,2016-06-08
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105655398A ,2016-06-08
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
雒曲 ;
谢文浩 .
中国专利 :CN113690185A ,2021-11-23
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘中元 .
中国专利 :CN118712196A ,2024-09-27
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王文博 ;
卜伟海 ;
俞少峰 .
中国专利 :CN103811322A ,2014-05-21
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张中怀 ;
陈文豪 ;
陈健源 ;
周学良 .
中国专利 :CN119967862A ,2025-05-09
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
阮钢 ;
马亚强 ;
罗钦贤 ;
苏圣哲 .
中国专利 :CN119786339A ,2025-04-08
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
侯俊安 ;
吴小鹏 ;
胡洋 ;
张家云 ;
张楠 ;
徐坤 .
中国专利 :CN119421407B ,2025-10-14