一种高质量氧化镓外延薄膜的制备方法及氧化镓薄膜

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专利类型
发明
申请号
CN202511209588.6
申请日
2025-08-27
公开(公告)号
CN121046937A
公开(公告)日
2025-12-02
发明(设计)人
岳建英 李培刚 李胜鹏
申请人
北京镓创半导体材料有限公司
申请人地址
101113 北京市通州区光华路甲1号院23号楼4层101-421号
IPC主分类号
C30B23/02
IPC分类号
C30B29/16
代理机构
北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276
代理人
金卫文
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
氧化镓外延薄膜及生长氧化镓外延薄膜的方法 [P]. 
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[2]
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龚义清 ;
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[3]
一种氧化镓外延薄膜的制备方法及氧化镓外延薄膜 [P]. 
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[7]
氧化镓异质外延薄膜的制备方法 [P]. 
张海 ;
牛鼎元 ;
赵学平 ;
崔晓明 ;
杨俊彪 ;
刘全龙 .
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[8]
一种电子浓度稳定的高质量氧化镓薄膜及其制备方法 [P]. 
董鑫 ;
焦腾 ;
张源涛 ;
张宝林 ;
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[9]
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[10]
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