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一种面向电离层电子密度的多卫星系统间误差校正方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511129259.0
申请日：
2025-08-13
公开(公告)号：
CN121028144A
公开(公告)日：
2025-11-28
发明(设计)人：
李旺 孟祥洲 张书婧 巫业宇 廖文宇 张克非 左小清
申请人：
昆明理工大学
申请人地址：
650500 云南省昆明市呈贡区景明南路727号
IPC主分类号：
G01S19/37
IPC分类号：
G06F18/10 G06N3/0499 G06F17/11
代理机构：
北京盛广信合知识产权代理有限公司 16117
代理人：
孙勇
法律状态：
公开
国省代码：
云南省 昆明市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-28 公开 公开
2025-12-16 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01S 19/37申请日:20250813
共 50 条
[1]
一种面向电离层总电子含量的多设备系统误差校正方法 [P]. 
李旺 ;
孟祥洲 ;
张克非 ;
赵东升 ;
朱大明 ;
王明果 ;
左小清 .
中国专利 :CN119493139A ,2025-02-21
[2]
一种面向电离层总电子含量的多设备系统误差校正方法 [P]. 
李旺 ;
孟祥洲 ;
张克非 ;
赵东升 ;
朱大明 ;
王明果 ;
左小清 .
中国专利 :CN119493139B ,2025-07-29
[3]
基于电离层电子密度的GNSS掩星电离层残差修正方法及系统 [P]. 
柳聪亮 ;
孙越强 ;
杜起飞 ;
白伟华 ;
王先毅 ;
蔡跃荣 ;
孟祥广 ;
夏俊明 ;
王冬伟 ;
李伟 ;
吴春俊 ;
刘成 ;
赵丹阳 .
中国专利 :CN110275183B ,2019-09-24
[4]
基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P]. 
李庆丰 ;
李泽运 ;
方涵先 ;
汪四成 ;
龚红卫 .
中国专利 :CN113687149A ,2021-11-23
[5]
基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P]. 
李庆丰 ;
李泽运 ;
方涵先 ;
汪四成 ;
龚红卫 .
中国专利 :CN113687149B ,2024-04-05
[6]
基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法 [P]. 
郝红连 ;
赵必强 ;
乐新安 ;
丁锋 ;
曾令旗 .
中国专利 :CN111580061B ,2020-08-25
[7]
电离层电子密度的反演方法、装置、系统、设备和介质 [P]. 
胡鹏 ;
白伟华 ;
孟祥广 ;
谭广远 ;
孙越强 ;
杜起飞 ;
蔡跃荣 ;
王先毅 ;
夏俊明 ;
李伟 ;
曹光伟 ;
柳聪亮 ;
尹聪 ;
黄飞雄 ;
吴汝晗 ;
王冬伟 ;
刘成 ;
乔颢 ;
李福 ;
仇通胜 ;
田羽森 ;
张浩 ;
王卓炎 ;
张鹏举 .
中国专利 :CN119556316A ,2025-03-04
[8]
一种探测电离层电子密度总数的方法及装置 [P]. 
周晨 ;
赵家奇 ;
赵正予 .
中国专利 :CN107132423B ,2017-09-05
[9]
一种基于雷达回波的电离层电子密度探测方法 [P]. 
丁宗华 ;
代连东 ;
吴健 ;
许正文 ;
王宁 ;
唐志美 .
中国专利 :CN106371084A ,2017-02-01
[10]
一种基于神经网络建立电离层电子密度模型的方法 [P]. 
姜涵颖 ;
李汇军 ;
蔡其发 ;
成巍 ;
张斌 ;
张晓芳 .
中国专利 :CN118607360B ,2025-10-24
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