一种面向电离层总电子含量的多设备系统误差校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411806030.1

申请日：

2024-12-10

公开(公告)号：

CN119493139B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

李旺孟祥洲张克非赵东升朱大明王明果左小清

申请人：

昆明理工大学

申请人地址：

650500 云南省昆明市呈贡区景明南路727号

IPC主分类号：

G01S19/41

IPC分类号：

代理机构：

北京盛广信合知识产权代理有限公司 16117

代理人：

杜旭东

法律状态：

公开

国省代码：

云南省昆明市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-21	公开	公开
2025-07-29	授权	授权
2025-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01S 19/41申请日:20241210

共 50 条

[1]

一种面向电离层总电子含量的多设备系统误差校正方法 [P].

李旺 ;

孟祥洲 ;

张克非 ;

赵东升 ;

朱大明 ;

王明果 ;

左小清 .

中国专利 :CN119493139A ,2025-02-21

[2]

一种面向电离层电子密度的多卫星系统间误差校正方法 [P].

李旺 ;

孟祥洲 ;

张书婧 ;

巫业宇 ;

廖文宇 ;

张克非 ;

左小清 .

中国专利 :CN121028144A ,2025-11-28

[3]

由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法 [P].

王新志 ;

贾军辉 ;

柯福阳 ;

夏安 ;

刘甫 .

中国专利 :CN104298845B ,2015-01-21

[4]

一种附加约束站的电离层总电子含量预测系统及方法 [P].

孔建 ;

张琦 ;

姚宜斌 ;

程世龙 ;

张良 ;

彭文杰 .

中国专利 :CN116341356B ,2024-01-12

[5]

一种电离层总电子含量预测方法、系统、电子设备及介质 [P].

汤俊 ;

胡嘉诚 ;

樊慈航 ;

张伟 ;

许浪 .

中国专利 :CN116933083B ,2025-07-08

[6]

基于TCN模型的电离层总电子含量预报方法 [P].

唐丝语 ;

黄智 ;

陈伟 .

中国专利 :CN111967679A ,2020-11-20

[7]

星载单航过InSAR系统电离层误差校正方法 [P].

余安喜 ;

郑涵之 ;

董臻 ;

张永胜 ;

张启雷 ;

何峰 ;

孙造宇 ;

黄海风 ;

金光虎 ;

何志华 .

中国专利 :CN108008367A ,2018-05-08

[8]

电离层的总电子含量预测方法、装置、设备及存储介质 [P].

舒颖 ;

闵阳 ;

曹成度 ;

滕焕乐 ;

吴石军 ;

马龙 ;

郑跃 .

中国专利 :CN112862159A ,2021-05-28

[9]

一种电离层总电子含量长期变化分析方法 [P].

刘杨 ;

宾学恒 .

中国专利 :CN111369034B ,2020-07-03

[10]

一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法 [P].

潘树国 ;

聂文锋 ;

胡伍生 .

中国专利 :CN103197340B ,2013-07-10

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