GRADED-THICKNESS SAMPLES FOR MOLECULAR-BEAM EPITAXIAL-GROWTH STUDIES OF GAAS/SI HETEROEPITAXY

被引:24
作者
BIEGELSEN, DK
PONCE, FA
KRUSOR, BS
TRAMONTANA, JC
YINGLING, RD
机构
关键词
D O I
10.1063/1.99624
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:1779 / 1781
页数:3
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