SOS DEVICE RADIATION EFFECTS AND HARDENING

被引：17

作者：

BUCHANAN, BL

NEAMEN, DA

SHEDD, WM

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1978.19208

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：959 / 970

页数：12

共 15 条

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