X射线双晶衍射技术的发展及应用

被引：14

作者：

王浩

廖常俊

范广涵

机构：

[1] 华南师范大学量子电子学研究所!广东广州

来源：

大学物理 | 2001年 / 07期

关键词：

双晶衍射; 回摆曲线; 倒易空间图; 反射率曲线;

D O I：

10.16854/j.cnki.1000-0712.2001.07.011

中图分类号：

TG115.23 [射线衍射分析];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

简要介绍了X射线双晶衍射技术的原理 ;描述了双晶衍射技术的发展与演化 .文中简要讲述了多晶衍射技术的应用范围及应用多晶衍射仪所能做的工作

引用

页码：30 / 35

页数：6

共 10 条

[1] 用5晶（7晶）X射线衍线仪研究半导体薄膜材料 [J].

罗江财，杨晓波 .

半导体光电, 1996, (04) :374-379

[2] X射线三晶衍射及其应用 [J].

李超荣 .

物理, 1994, (01) :46-50

[3] 掠入射X射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用 [J].

崔树范 .

物理, 1993, (02) :87-91

[4] 高分辨X射线双晶衍射技术在半导体薄膜材料研究中的应用 [J].

麦振洪 .

物理, 1992, (03) :181-186

[5] X 射线双晶衍射在新材料研究中的应用 [J].

朱南昌 ;

李润身 ;

陈京一 .

材料科学进展, 1991, (02) :129-133

[6]

X射线结构分析与材料性能表征[M]. 科学出版社 , 滕凤恩等主编, 1997

[7]

X射线衍衬貌相学[M]. 科学出版社 , 许顺生, 1987

[8]

半导体测试技术[M]. 冶金工业出版社 , 孙以材编著, 1984

[9]

X射线光谱分析导论[M]. 地质出版社[美]伯廷(E·P·Bertin), 1981

[10]

High-resolution diffraction-space mapping and topography[J] . P. F. Fewster.Applied Physics A Solids and Surfaces . 1994 (3)

← 1 →